多模式超声波测厚仪  型号：DP-T180

DP-T180产品概要
DP-T180多模式超声波测厚仪，基于超声波传播原理，可对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他多种超声波的良导体材料进行厚度测量，也可实现对材料声速的反测。被广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等领域的生产设备中各种管道及压力容器腐蚀减薄程度的监测，也可用于对各种板材及各种加工零件的测量。

DP-T180技术参数
测量范围 发射-回波模式下，(0.65～600)mm
（45#钢，探头分段适用）；
回波-回波模式下，(3～30)mm                
示值误差 ±0.05mm（≤10mm）；±（0.5%H+0.01）mm(>10mm)；
H为被测物厚度
测量频率 单点测量时每秒钟7次、扫描模式每秒钟16次
屏幕显示 高对比度的段码液晶显示（支持EL背光显示）
分 辨 率 0.1mm/0.01mm可切换
声速范围 (1000～9999)m/s（可对已知厚度物体反测声速）
工作模式 发射-回波模式（P-E）和回波-回波（E-E）模式
探头校准 零点校准、两点校准
测厚模式 单点测量、值测量和差值测量
数据存储 可存储管理20组（每组100个）厚度数据
单位制氏 公制或者英制（可选）
通讯接口 USB1.1（可与PC通讯接口）
工作电源 两节5号（AA尺寸）碱性电池，可连续工作50小时（默认亮度时）以上
自动节电 具有自动关机节电功能
外壳属性 材质：ABS工程塑料；尺寸：150mm×74mm×32mm；重量：245g

功能特色
适用于测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波良导体的厚度。
l兼备两种测厚模式：发射-回波模式和回波-回波模式，可以穿透涂层进行厚度测量而不计入涂层厚度。
大容量存储，低功耗设计，可超长待机数月以上。
已知厚度可以反测声速，满足多种材料的厚度检测需求。
选配USB数据处理软件，可连接电脑进行数据分析、存储、打印等。
可以兼容多种不同频率、不同晶片尺寸探头，自动识别高温、粗晶、小管径等不同探头

探头选择