方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号：DP-WSP-51 DP-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。 本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！ 仪器所有参数设定、功能转换全部采用旋钮输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。 三、基本参数 1. 测量范围、分辨率 电 阻： 1.0×10-2 ～ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10 Ω 电 阻 率： 1.0×10-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ～ 0.1 Ω-cm 方块电阻： 1.0×10-3 ～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10 Ω/□ 2. 可测半导体材料尺寸（手持式） 直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限. 长（或）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限. 3. 量程划分及误差等 量程 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | 基本误差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB |
4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电 5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm 净 重：≤0.5kg |
