振动校准仪/加速度计校准仪 型号：DP-JX-1A
、振动校准仪/加速度计校准仪 型号：DP-JX-1A概述
DP-JX-1A校准仪可以方便、准确地对压电式加速度计和整套系统行标定。该仪器机内产生个频率为79.6Hz的正弦信号，经功放推动振动台做正弦振动，加速度为10m/s2;也可外接输入具有定功率的正弦信号，推动振动台在50～2000Hz内振动，作激振器使用。 二、振动校准仪/加速度计校准仪 型号：DP-JX-1A指标 1、精度：优于5% 2、失真度：< 1% 3、工作频率：79.6Hz±0.5Hz（ω=500） 4、内部发生器： 加速度：10m/s2±5%（单峰值）
速度：20mm/s（单峰值）
位移：40μm（单峰值） 5、外部驱动发生器范围：50～2000Hz 6、Z大负荷：80克 7、线圈阻抗：
驱动线圈：80Ω； 速度线圈：500Ω 8、Z大振幅：±1.5mm 9、温度范围：10～40℃ 10、横向运动：<10%
11、电源：220V±10% 耗电约5W
12、外形尺寸：200×180×150（mm）
13、重量：5公斤
可调温露点仪/露点仪/在中空玻璃点仪 型号：DP-TW-25 1.用途： DP-TW-25型可调温露点仪为符合美ASTM E546和E576标准的中空玻璃露点检测设备。该设备为便携型的检测中空玻璃露点的用设备，可对水平放置或垂直放置的样品行测量。DP-TW-25型可调温露点仪具有冷阱温度调节范围大、温度调节梯度小、冷容量大（规定试验时间内温度波动小）、冷散失量小、试验成本低等点,在中空玻璃厂家、科研院所、检测中心及建筑工程上已得到了广泛的应用。 ２.主要指标: 1. 冷阱有效直径：Φ25.4mm; 2. 干冰筒容积：Φ75×145mm； 3. 温度调节范围：-10至-60℃； 4. 温度调节梯度：≤±2℃； 5. 温度波动量：±2℃； 6. 温度调节指示表（百分表）准确性≤±10μm； 7. 数显温度计指示准确性≤±1℃； 8. 试验方式：水平样品或垂直样品；
涡流测厚仪/便携式涡流测厚仪 型号：DP-ED300 DP-ED300型涡流测厚仪是种小型便携式仪器。性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流法》。仪器多次通过家计量的性能试验，获得计量器具制许可证。 DP-ED300型涡流测厚仪，用于测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳氧化膜或涂层厚度。
仪器适于在现场、销售现场或施工现场对产品行快速无损的膜厚检查。可用于检验、验收检验和质量监督检验。
仪器在内铝型材、铝门窗、监督、工程质检等行业得到广泛应用，得到用户的广泛信任与好评。
仪器点
﹡校正箔片 作为仪器的计量基准，校正箔片经过家计量检测，附有检测
报告。
﹡探头 对容易受损的探头做了耐久性，具有防磕碰、防水等防护功能。
﹡探头线 日本口的探头线使用寿命较长。
﹡仪器防护套 结实的透明塑料仪器套，可保护仪器免受损伤和污染。
﹡经久耐用 DP-ED300型测厚仪对于恶劣的使用环境，频繁的测量操作适应性较
强。在铝型材行业十几年的使用证明，它是种性能优良、可靠实用的仪器 测量范围： 0～150μm
测量精度： ±3%
分 辨 率： 0.1μm
功 耗： 0.06W
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 280g 标准配置 主机 1台
探头 1支
基体 1块（6063合金）
校正箔片 1套4片（附检测报告）
使用说明书 1份
合格证 1份
保修单 1份
手提式仪器箱 1个
涡流测厚仪 型号:DP-ED400 DP-ED400型涡流测厚仪是DP-ED300型测厚仪的改型，仪器性能大幅度提。
仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
仪器适于在现场、销售现场或施工现场对产品行快速、无损的膜厚检查， 可用于检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器点
DP-ED400型涡流测厚仪与DP-ED300型相比，具有如下点：
＊量程宽 DP-ED400型的量程达到0～500μm。
＊精度 DP-ED400型的测量精度达到2%。
＊分辨率 DP-ED400型的分辨率达到0.1μm。
＊校正简便 只校正“0"和“50μm"两点，即可在全量程范围内保证精度。
＊基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量
误差不大于1～2μm。
＊可靠性提 采用集成度、稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性
提。
＊稳定性提 采用的温度补偿，测量值随环境温度的变化很小。仪器
校正次可在现场长期使用。
＊探头线寿命长 采用德口的，在德测厚仪上使用的探头线，探头线寿命
可大大延长。
＊探头芯寿命长 采用强度磁芯材料，微调了探头，探头芯寿命可大大延
长。
＊探头可互换 外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无
需返厂维修。 测量范围： 0～500μm
测量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可选）
使用温度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
密封胶相容性试验箱/密封性试验箱 型号：DP-UV2004 密封胶相容性试验箱（DP-UVA-340相溶性紫外线辐射照试验箱,）是GB16776-2005《建筑用硅酮结构密封胶》（附录A相容性试验）中的主要检测仪器之。
仪器具有工作状态记忆、温度自动控制及辐照时间计时功能。当辐照时间到时能自动停机和报警。辐照过程中若外界停电，当恢复供电时，自动启动并继续辐照试验，计时器行累加计时。
仪器满足GB16776-2005《建筑用硅酮结构密封胶》（附录A相容性试验）对密封胶相容性试验箱（DP-UVA-340）的要求。
主要指标：
1、紫外线荧光灯功率： 40Ｗ×4支
2、温度测量范围： 0～65℃
3、温度控制精度： ±0.5℃
4、辐照时间设定值： 0～999小时59分钟
5、加热器功率： 200Ｗ
6、试验箱外形尺寸： 1250×350×690mm
7、电 源： 220VAC±10% 2kVA
8、壳 体： 全不锈钢
注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的
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