紫外线强度检测仪/强度检测仪/紫外线强度监测仪/紫外强度计/紫外线强度计/紫外线强度仪 型号:DP-ZQJ-254 紫外线强度检测仪/强度检测仪/紫外线强度监测仪/紫外强度计/紫外线强度计/紫外线强度仪 型号:DP-ZQJ-254产品介绍: 紫外线的应用很广泛,如紫外线杀菌消毒,紫外线理疗,紫外线荧光分析和鉴别侦破,紫外线曝光光刻等。紫外线的破坏作用在某些场合是非常危险的。如文物书画,橡胶塑料,在长期照射下会发生老化,紫外线还会伤害眼睛,皮肤和花木等等。HA-ZQJ-254紫外线强度检测仪能测量各种环境中的紫外线辐照剂量。
紫外线强度检测仪/强度检测仪/紫外线强度监测仪/紫外强度计/紫外线强度计/紫外线强度仪 型号:DP-ZQJ-254产品用途: DP-ZQJ-254型紫外线强度检测仪可广泛适用于测量各种场合的紫外辐射强度,对从事生物、化学、医疗、卫生、食品、侦破、考古和对测量滤色片及石英玻璃片的紫外线透过率,是灯泡和玻璃制品厂等单位的的检测仪器。 紫外线强度检测仪/强度检测仪/紫外线强度监测仪/紫外强度计/紫外线强度计/紫外线强度仪 型号:DP-ZQJ-254指导: ⑴量测强度宽:0.1-30000(uwcm2); ⑵紫外线范围:200×320nm(中心波长254nm); ⑶放大器采用集成块测量值稳定可靠; ⑷外形尺寸:200×150×80mm,重量1公斤; ⑸电 源:1.5v1号电池2节; ⑹工作环境条件:温度(0-20℃相对湿度≤70%),无强电电磁场干扰; ⑺示值误差:±10%(253.7nm), 标配:主机,探头,底座各个
正投影机光色参数快速测试仪 投影机光色参数检测仪 型号:DP-XYI-XI 正投影机光色参数快速测试仪用于大屏幕投影机光色参数的快速测量仪器,别适用于投影机线上的自动调校。其测量对象包括屏幕光通量、屏幕的光通量不均匀性、对比度、色品坐标和色温。 仪器预设标准A光源及D65光源文件,并可根据用户需求,由用户任意设定存储标准光源。仪器可根据不同参考光源自动修正探测器的光谱参数误差,达到屏幕的总光通量、屏幕的光通量不均匀性、色品坐标和色温的测量。其测量精度达到际水平。 仪器软件运行于Windows98/NT环境,具有友好的图形界面、功能强大。采用图形化实体数据显示,可以行柱形图和亮度图切换及数据打印输出。仪器同时具有实时通讯功能,适用于屏幕参数的在线测量及控制。 正投影机光色参数测量,9点照度测量,颜色参数测量 指标: 光通量测量范围:0-8000lm(按4m2计算) 仪器精度:优于±4% 分辨率:0.05%(满量程) 线性:±1% 工作温度:0-50℃ 投影屏幕测试探测器:1-9探测器为照度探测器,5、10、11探测器为色度探测器(根据用户要求仪器也可附带15个探测器) 探测器V(λ)匹配达家照度计标准 具有色温修正软件, 可测量不同色温的光通量及色品坐标 总光通量自动计算和屏幕光通量不均匀性计算及其相关软件 微机控制及上位机通讯。 刷新频率:3次/s 供电电源:220V交流电 保修期:1年 随机附件:相关软件和说明书
加重型采样器/防静电取样器/黄铜加重采样器 型号:DP-TQB 加重型采样器又称:加重采样器、黄铜加重采样器、加重取样器。加重采样器符合GB/T6680、GB/T4756家标准。加重采样器采用殊工艺制成,油口有闭合装置,适用于采取容器部、上部、中部、下部(底部样品可用底部采样器采集)的样品。加重采样器材质为黄铜,具有不漏油、美观等点。加重采样器规格:300ml、500ml、1000ml。 加重采样器使用: 1.将防静电采样绳端牢固接地,防静电采样绳另端与加重采样器牢固连接。 2.采样前用手触摸罐体,以消除静电。 3.将加重采样器以不大于1米/秒的速度下落至想采集样品的部位,用力向上提防静电采样绳,油时会有气泡昌出。待没有气泡时提出加重采样器,转移样品,即可成样品的采集,采样毕后擦干加重采样器存放。 注意:当将加重采样器提出时应使加重采样器尽量不要触及金属油罐,以避免静电放电;整个采样过程中保持加重采样器、防静电采样绳和接地点牢固连接,以顺利导除静电。
袖珍式测振仪/测振仪 型号:DP-EMT220AN ● 工艺,具有功耗低、性能可靠、型美观、使用携带为方便的点。 ● 按标制,测量值与际振动烈度标准(ISO 2372)比对可直接判断设备运行状态。 ● 具有低频分档功能,在振动测量时,便于识别设备故障类型。 ● 仪器壳体内表面做有效电磁屏蔽层,确保在复杂工业电磁环境的可靠测量。 ● 备有信号输入功能,配接温度传感器,即可测量温度。 ● 备有信号输出功能,选配用耳机,兼具设备听诊器功能;配接示波器、振动记录仪等,可用来监测、记录振动信息。 ● 按振动传感器与主机的连接方式分为体式和分体式供您选择。 ● 适用于各类机械的振动、温度测量。 传 感 器:体式环形剪切型加速度传感器 分体式电荷放大器内置剪切型加速度传感器 测量范围:加速度 0.1~199.9m/s2(单峰值) (5或10~1KHz;1K~15KHz) 速 度 0.01~19.99cm/s(有效值) (5或10~1KHz) 位 移 0.001~1.999mm(峰峰值) (5或10~1KHz) 温 度 0 ℃~400 ℃ 测量精度:振 动 5%±2个字 温 度 1%±1个字 显示方式:三位半液晶数字显示 保持性:测量值自动保持,延时自动关机 信号输出:交流2V峰值(满量程及负载大于10K欧姆) 电 源:9V叠层电池1节,可连续使用25小时 体 积:185mm×68mm×30mm 重 量:200g 型 号 | 功 能 | DP-EMT220AN | 标准型,体式,可测量加速度Hi、加速度Lo、速度、位移量 | DP-EMT220AL | 低频型,体式,测振功能同上,Lo频率范围为5Hz—1kHz | DP-EMT220ANC | 测振测温型,测振功能、性能同EMT220AN,带测温探头 | DP-EMT220ALC | 测振测温型,测振功能、性能同EMT220AL,带测温探头 | DP-EMT220BN | 标准型,分体式,可测量加速度Hi、加速度Lo、速度、位移量 | DP-EMT220BL | 低频型,分体式,测振功能同上,Lo频率范围为5Hz—1kHz | DP-EMT220BNC | 测振测温型,测振功能、性能同EMT220BN,带测温探头 | DP-EMT220BLC | 测振测温型,测振功能、性能同EMT220BL,带测温探头
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探针测试台/测试台/中测台/点测机 型号;DP-ST-102A DP-ST-102A型探针测试台 、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试,适用于科研、新品试制及小批量的中间测试。 技 术 指 标 : 工作台面 | 370mm*245mm | 载物台直径 | 4" | 光学参数 | 总放大率:50-100倍;手轮调焦范围:60mm;升降调焦范围:200mm; | 旋转台 | 粗调范围:360°;微调范围:±10°;Z小刻划:1°; 铜盘直径:Φ85mm;缘盘直径:Φ102mm | 三维探针座 | 探针座X、Y、Z方向调节范围:±3.25mm,分辨率±2μ; 三维探针座在工作台面可任意位置固定,由磁性开关控制; Z多可布三维探针座6个; 探针臂伸出长度:60mm; 探针长度:40mm; | 探针 | 探针材质硬质合金,针尖曲率半径2μm; |
| 标准配置:主工作台、显微镜、承片台、三维微调架2个、探针臂2支、探针2支。 可选配件:三维微调架、探针臂、探针、真空泵。 |
注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的
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