多项职业能力测量仪/综合反映时测定仪

多项职业能力测量仪/综合反映时测定仪  型号：DP-EP202

多项职业能力测量仪/综合反映时测定仪  型号：DP-EP202产品概述：
各类反应时间的测定是心理教学中的常见的实验内容，主要用于对个体反应时间的研究。本仪器分别测量在不同声、光条件下和在不同光色条件下的反应速度。依此也可以测定交通职人员、体育运动员等职业人员的反应快慢，为培训和选拔各类业工作者提供科学的测试手段。
1. 声光反应属于反应时类型中的简单反应时。按随机呈现声、光刺激，被试做出固定反应，通过实验测试、数据处理、统计、计算来验证不同刺激下的感官反应、练习的程度，以及被试的准备状态、心理状况等对反应时的影响。
本仪器通过四色发光二管起点亮作为光刺激，而声刺激则是通过仪器内部的压电蜂鸣器发出声响作为刺激源，另用四个光电按钮作为被试的反应部件。
2. 选择反应是在四种颜色的光刺激下的选择反应时间。本仪器通过四色发光二管作为光刺激，用对应四种颜色的四个光电按钮作为反应部件。
3. 辨别反应考量的是对四种颜色光做出辨别后再行反应的时间。本仪器中，规定被试对某定颜色光做出反应而对其他色光不反应，用个光电按钮作为反应部件。
4. 运动反应要求被试在接受刺激后作出个肢体动作来表征反应。本仪器使用不同的开关（声控开关，手握开关，脚踏开关）来作为反应部件。

多项职业能力测量仪/综合反映时测定仪  型号：DP-EP202参数：

闪烁频率： 8.0Hz－60.0Hz
显示精度： ≤±0.1Hz
亮点颜色： 红，绿，黄
电 源： AC 220V±22V 50Hz
功 耗： ＜5VA
环境温度： 0－40℃
遮 光 罩： 200×150×60mm3
重 量： 1kg
外形尺寸： 200×170×80mm3

无线压电流互感器变比测试仪 型号:DP-9500

产品点

测量：低压电流互感器二次回路的电流、变比、比差、角差、相别、性、漏电流在线测试监控；变压器两侧电流大小、变比在线测试监控；空电流、漏电流测试；二次回路核相、相序判断功能。

无线压变比测试仪突破传统结构，为测量低压二次回路的电流、变比、漏电流而精心制的，采用CT及掩膜数字集成，由用压检测仪、低压电流钳、主机、压缘杆、监控软件等组成，其无线传送测试数据能穿透多层楼房障碍，直线传输距离达300米。若不使用缘杆，还可以当作精度低压钳形电流表、漏电流表使用，能准确测出0.01mA～1000A的电流或漏电流。 

手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:DP-3

概述
DP-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.DP 标准。
仪器成套组成：由DP-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头点与选型参考》点击入
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、 化程度、结构紧凑、使用简便等点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。 
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率
电    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cDP， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cDP
方块电阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直    径：DPT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130DPDP。
DPT-C方测试台直接测试方式180DPDP×180DPDP。
长()度：测试台直接测试方式 H≤100DPDP。.
测量方位: 轴向、径向均可.

 量程划分及误差等

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净   重：≤0.3kg

数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:DP-2258C

概述
DP-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类功能，Z大分类10类。
探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-T-A或DP-T-B或DP-T-C或DP-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-T-K型测试台，也可选配DP-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的点与选型参考》
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、 化程度、结构紧凑、使用简便等点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量）
电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□ 
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直    径： DP-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
测量方位:  轴向、径向均可

量程划分及误差等

工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（）

净   重：≤1.5～2.0kg

自动表面/界面张力仪/表面张力仪 型号：DP/BZY-203

DP/BZY系列自动表面/界面张力仪除了升降系统是手动操作外，。具有性能，经济型定位的点，有着的性价比。

主要征： 
1. 铂金板或铂金环测试原理，操作简单方便； 
2. 自动数字化测量，减少人为操作误差； 
3. 全量程键清零，瞬间成，零位无漂移； 
4. 全量程自动校正，数据准确可靠、重复性好； 
5. 铂金板测试时，显示值即为试样的表面/界面张力值，铂金环测试时，具有峰值保持功能，需通过Exce计算或通过数据处理软件自动换算成表面/界面张力值；
6. 仪器结构紧凑，立工作。也可选配数据处理软件，得到更多的信息；
7. 能测量试样的表面张力因时间不同而产生的变化（别是有表面活性剂或含有挥发性物质时，限铂金板测试模式下）；
8. 自动量测中、粘度液体样品并得到准确的平衡结果（限于铂金板测试模式）； 
9. 可测量不相混合液体之间界面张力如：油/水界面； 
10.可全取代传统机械式表面张力仪，且精度更、重复性、使用更方便；
11.本系列仪器除了手动控制试样平台升降外，主要结构和参数与QBZY系列相仿，具有品质、经济型价格，性价比。

主要参数：

注：准确性误差、重复性误差都是指测试标准物质（2次蒸馏水或纯乙醇）与文献值的差异 

注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的