自动型薄膜测厚仪/ 薄膜测厚仪 型号：DP-CHY-U 薄膜自动测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料厚度的测量。
薄膜自动测厚仪征：
1、机械接触式测量方法不受测量材料的限制，兼容ISO、ASTM 等多种测量标准
2、口优质部件选择，成熟经验
3、测量、运行可靠，测量分辨率达0.1微米
4、支持手动、自动双重测量模式
5、自动样系统标准配置，试样测试长度不受限制，真正实现了自动、连续测量
6、自动样间距、测量点数、样速度等参数可调，可地满足用户的统计分析需求
7、测量数据清晰大屏幕液晶显示，试验数据目了然
8、测量过程即时显示Z大值、Z小值、平均值和统计偏差
9、设备形美观大方新颖别致，符合人机工程学原理
10、标准RS232通信端口配置，可接驳计算机
11、业软件配置，数据起伏曲线、偏差图 、圆形坐标图等模式显示，统计功能直观、全备 13、预留了网络传输接口，支持TCP/IP等协议，可实现测试数据在局域网与互联网之间的信息共享
薄膜自动测厚仪参数：
1、测量范围：0～2mm（0～6mm可选）
2、分 辨 率：0.1μm
3、测量压力：17.5±1kPa（薄膜）； 标准配置
50±1kPa（纸张） 可选配置
接触面积：50mm2（薄膜）； 标准配置
200mm2（纸张） 可选配置
4、自动样间距：1～1000mm
5、自动样速度：0.1～99.9mm/s
6、电 源：AC 220V 50Hz
7、外形尺寸：451（L）mm×329（B）mm×347（H）mm
8、净 重：32kg
薄膜自动测厚仪执行标准：
GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS3983、BS4817 北京亚欧德鹏科技有限公司
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