四探针金属/半导体电阻率测量仪

四探针金属/半导体电阻率测量仪   型号：DP-SB100A/2

DP-SB100A/2为原DP-SB100/1及DP-SB100A/1的改型。
 
由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
 
（使用环境5—40℃，相对湿度<80%，供电220V  50Hz，为实验室环境使用）
 
DP-SB100A/2由SB118直流电压电流源、DP-PZ158A直流数字电压表、DP-SB120/2四探针样品测试平台三部分组成。
            DP-SB118直流电压电流源：是台4½位的电压源及电流源，既可输出5µV—50V，5档可调电压，基本误差为±（0.1%RD+0.02%FS）又可输出1nA—100mA，5档可调电流，基本误差为
±（0.03%RD+0.02%FS）详见本公司产品DP-SB118。
            DP-PZ158A直流数字电压表：具有6½位字长，0.1μV电压分辨力的带单片危机处理的精度电子测量仪器，可测量0-1000V直流电压。基本量程的基本误差为±（0.002%RD+0.0005%FS），详见本公司产品DP-PZ158A。
            DP-SB120/2四探针样品测试平台：该测试平台是DP-SB120/1测试平台的改型。其有底座、支架、旋动部件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原DP-SB120/1的基础上作了很大的改，故在校的物理实验及科学研究总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便。
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