电线电缆金属导体电阻率测试装置 型号：DP-EWC-2 电线电缆金属导体电阻率测试装置 型号：DP-EWC-2产品简介 本测试装置是根据际电工委员会（IEC）468和标GB3048.2—94的规定而研制成功的,是测定电线电缆金属导体电阻率性能的装置,其性能全符合GB3048.2—94要求,是集电子、微处理机、自动检测和新型样品夹持装置于体的 化新产品，解决了传统检测中由于单臂双臂电桥而产生的操作繁琐，平衡费时，人工计算、工作效率低等问题，采用了的精度的电流—电压降四端子测量法，消除了连接导线电阻和接触电阻所带来的误差，可以精度地测定实心铜铝及其合金导体材料的体电阻率，质量电阻率以及单位长度电阻。 本测试装置为综合性测试系统，为测试台结构，主要由的样品夹具，精度数字电压表、宽量程稳定直流恒定电流源，微处理机系统等部分组成，样品夹具由殊导电合金加工而成，接触良好，导电性能好，有快和慢功能，具有定位精度等点，适合用于从φ0.1mm—φ40mm宽范围导体的调节和夹持，精度数字电压表灵敏度、测量范围由0.1μV—2V,精度达0.05%，用LED 4 1/2位数字显示，大功率恒流源电流输出范围宽从10μA—15A，恒定电流输出稳定性好，精度达0.05%，微处理机系统由主机、键盘、显示终端和打印机组成。 本装置采用的人机对话，屏幕菜单提示，自动行温度修正，自动计算电阻率和误差，本装置具有测试精度、操作方便，屏幕显示、人机对话、自动行数据处理打印等点，适合于各电线电缆厂，合金材料厂、等院校、科研单位对金属导体材料的研究和检测之用，可测量导线每米长度电阻、体电阻率和质量电阻率。 电线电缆金属导体电阻率测试装置 型号：DP-EWC-2仪器主要指标： 、测量范围：电阻：6.7×10-9--105Ω 线材直径：φ0.1mm—φ40mm 二、测量误差：在φ0.1mm—φ1mm线径范围，误差为±0.15% 在φ0.1mm—φ40mm线径范围，误差为±0.25% 三、设备 （） 测试控制台：为台式结构，载放仪器电气箱计算机系统及测试架供试验测量用，备有抽斗，记录板等附件。 （二） 测试架：作为每米长度电阻导线的测试架，标尺误差：1000±0.2mm 用夹具：具有慢和快夹紧装置，电位夹头具有微调装置，可夹紧导线直径φ0.1mm—φ40mm （三） 主机 1． 数字电压表 量程：2mV、20 mV、200 mV、2V 分辩率：0.1μV、1μV、10μV、100μV 量程误差：2mV档：±（0.1%读数+6字） 20mV、200mV、2V档：±（0.1%读数+2字） 2． 直流恒定电流源 量程：10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA 误差：±（0.1%读数+2字） 电流调节：0--100 mA、连续可调 3． 电阻显示 4 1/2位LED数字显示0—19999 电阻单位、小数点过载自动显示 4． 单片微机及PC接口 （四） 大功率直流恒流源 1． 量程：1A、10A、15A 2． 电流误差：±（0.1%读数+2字） 3． 电流调节：电流为固定输出 （五） PC微处理机系统 1． 键盘：标准键盘 功能：能输入试验日期、编号、温度、导线直径、每米导线称重值、测量方法、试样来源及规格 2． 数据处理功能：由导线直径计算导线的截面积 由导线重量计算导线的质量 输入试验温度计算温度修正系数 计算导线的电阻率（20°C） 计算样品测量次数的平均电阻值率 3． 显示：CRT屏幕显示 采用菜单式提示操作程序，达到人机对话，显示测量结果 4．打印机：由打印机打印出测试结果及数据 电缆半导电屏蔽层电阻测试仪/电缆电阻测试仪 型号：DP-BT-900A DP-BT-900A型电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪是根据标GB11017-89所规定的测试方法和指标而的，用来测试压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻 仪器由电气箱和测试架两大部分组成，测试架具有夹持加压机构，能够良好地夹紧各种不同直径的屏蔽电缆，具有环形准确度达0.3%的电位电和电流电确保仪器取样位置精度、使用方便、外形轻巧，适应在常温和恒温箱中测量。电气箱具有精度的数字电压表，测量范围10μV—2V。稳定性的直流恒定电流源，输出电流从0.1μA—10mA连续可调，测量电阻率范围宽为10-104Ω·m ,测量电阻值，直接数字显示：单位、小数点也都自动显示，仪器还有性转换和自校功能。 本仪器适合电缆研究，电缆厂，对于压交联电缆半导电屏蔽层电阻率的测试是具备的测量手段 指标： 1． 测量范围 电阻率 10-5--104Ω·m；电阻10-3--107Ω 2． 测量精度 ±(0.5%读数+2字) 20MΩ量程±(3%读数+2字)（在0.1mA、2V时） 3． 电压量程 20 mV、200 mV、2V 4． 测试电流 0.1μA、1μA、10μA、100μA、1mA、10mA 5． 显 示 3 1/2 位LED数字显示0---1999、单位、小数点、性自动显示 6． 测试架 电缆导电屏蔽层直径：10mm—35mm 电缆缘屏蔽层直径：50mm—140mm 电位电间距：50mm±0.25mm 电流电与电位电距离>25mm 备有13付内屏蔽电位电和电流电 7．尺寸 电气箱：360mm×420mm×120mm 测试架：202mm×162mm×319mm 半导电橡塑材料电阻温测试架/电阻温测试架 型号：DP-DB-4/DB-5 测试架是与本公司的DP-DB-4型电线电缆半导电橡塑电阻测试仪的配套产品。DP-DB-4仪器是检测半导电橡塑材料在23°C时的电阻率值，配上本测试架后可以扩展功能，将本测试架放入烘箱，可以检测该材料在0~180°C温下，电阻率变化值。 本测试架有以下点： 1、 性能全符合标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电、电压电，及加压系统，样品盒缘强度大于1012Ω。 2、 投资少具有标准接口，能与DP-DB-4型电线电缆半导电橡塑电阻仪配套使用，能满足新老用户的要求，凡以前已购买了DP-DB-4仪器的用户不必再买仪器烘箱了，应用原有仪器设备省钱省事。 3、 工作可靠，工作温度范围大采用强度缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究分子材料在90~120°C乃至180°C温条件的电阻率变化，提供了有力保障。 4、 操作简单，使用方便，寿命长。 附注：DP-DB型电线电缆半导电橡塑电阻测试仪于1985年通过全鉴定，是全依照标GB3048.3-83的要求行的，在20多年运用中，仪器几经改，全又有200多家电缆厂、粒厂、研究所、大学购买了本仪器，经过漫长岁月的考核使用后，实践充分证明本仪器，测量精度，性能稳定可靠，使用操作方便，是内*符合GB3048.3要求的仪器，深受内外各交联电缆厂，分子材料厂，半导电橡胶厂，校研究所的欢迎，是半导电材料体电阻率性能研究时的仪器设备 电线电缆半导电橡塑电阻测试仪/电阻测试仪 型号：DP-DB-4 DP-DB-4电线电缆半导电橡塑电阻测试仪是根据家标准GB3048.3—94研究成功的测量设备，主要用于测量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻，若换上殊的四端子测试夹，还可以对金属导体材料及产品的低、中值电阻行测量 经过了十多年的实际运行，全近百家主要电缆厂和半导电屏蔽材料厂均已采用了该仪器，它是目前全*符合家标准GB3048.3-94的测量半导电橡塑材料电阻率的仪器。 仪器为台式结构，主要由电气箱、测试架两大部分组成，固定在用工作台上，电气箱包括灵敏的直流数字电压表和稳定的直流恒流源，测量结果采用LED数字直接显示，测量电流输出也采用LED数字显示，从0—100mA范围内可任意调节，可达到控制测试功率损耗的规定，仪器测试架由电、压力探头、样品台及电动传动机构组成，操作按键电钮，可行半自动测量。 仪器具有测量精度、稳定性好、结构紧凑、使用方便等点，全符合际和家标准的要求。 仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、等院校、科学研究等，对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测，是必需的测试设备。 仪器主要指标： 、 测量范围：10-4--103Ω-cm可扩展到105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm 二、 数字电压表： 1． 量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V 2． 测量误差 0.2mA档±(0.5%读数+8字)；2mV—2V挡±(0.5%读数+2字) 3． 显示3 1/2 位数字显示0—1999具有性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。 三、 恒流源： 1． 电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给，数字显示 2． 量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 3． 电流误差：±(0.5%读数+2字) 四、 测量电： 1． 电流电：宽度50mm,与试样的接触宽度5mm，两个电流电间的距离110mm 2． 电位电：宽度50mm，接触半径<>，两个电位电间的距离20mm±2% 五、电源：220±10% 50HZ或60HZ 功率消耗<50W 六、外形尺寸（包括测试工作台）1200×600×1050mm（长×宽×) 二探针单晶硅及多晶硅测试仪 型号：DP-GL-1 本仪器主要用于测量大直径的单晶硅和多晶硅的电阻率分布情况，以便硅材料的切割和加工。 为适应大规模集成电路的迅猛发展，别是计算机芯片、内存的发展，越来越多的使用到了大直径、纯度、均匀度更的单晶硅材料。目前，在美、德等的工业家，均采用了二探针法，使用二探针检测仪来测量大直径单晶硅的电阻率分布情况。 仪器符合美ASTM 《“F391-77”关于二探针测量硅单晶试验方法》的标准，是种新型的半导体电阻率测试仪，适合半导体材料厂和器件厂用于二探针法测量单晶硅和多晶硅半导体棒状材料的体电阻率，从而步判断半导体材料的性能，指导和监视工艺操作，也可以用来测量金属材料的电阻，仪器具有测量精度、稳定性好、结构紧凑、使用方便、型美观等点。也可以配四探针测试头作常规的四探针法测量硅晶体材料。 仪器分为仪表电气控制箱、测试台、探头三部分，仪表电气控制箱由灵敏度直流数字电压表、抗干扰隔离性能的电源变换装置、稳定精度恒流源和电气控制部分组成。测量结果由大型LED数字显示，零位稳定、输入阻抗，并设有自校功能。在棒状材料使用二探针法测试时，具有系数修正功能，从面板输入相应的修正系数，可以直接读出电阻率，使用方便。测试台结构新颖，型美观，可以方便地固定好大小任意尺寸的样品，并可以作逐点选择步测量，也可以自由选择固定位置测量，电活动自如，具备锁定装置，方便重复测量。另外还配置了二处记录板和转椅，测试探头能自动升降，探针为碳化钨材料，配置宝石轴承，具有测量精度、游移率小、耐磨、使用寿命长点。同时探头压力恒定并且可调整，以适合不同的材料。 仪器主要指标： 1.可测硅材料尺寸： 直径Φ25~Φ150mm满足ASTM F-397的要求。 长度：100~1100mm. 2.测量方式：轴向测量，每隔10mm测量点。 3.测量电阻率范围：10-3~103Ω-cm,可扩展到105Ω-cm。 4.数字电压表： （1）量 程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V （2）测量误差：±0.3%读数±2字 （3）输入阻抗：0.2mV和2mV档>106Ω 20mV档及以上>108Ω （4）显 示：31/2位LED数字显示，范围0~1999。 5.恒流源： （1）电流输出：直流电流0~100mA连续可调。 （2）量 程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA （3）电流误差：±0.3%读数±2字 6.二探针测试装置： （1）探针间距：4.77mm （2）探针机械游移率：0.3% （3）探针压力：0~2kg可调 （4）测试探头自动升降 7.二探针测试台 （1）测试硅单长度：100-1100mm （2）测试点间距：10mm （3）测试台有慢、快二种移动速度，快速移动速度为1000mm/分（均匀 手动） 8.电源：交流220V±10%，50HZ±2HZ，消耗功率<150W 注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的 |
