功率因数表/单相功率因数表/三相功率因数表 型号：DP-YN194H-2X1 功率因数表/单相功率因数表/三相功率因数表 型号：DP-YN194H-2X1 功率因数表/单相功率因数表/三相功率因数表 型号：DP-YN194H-2X1尺寸：120*120mm 开孔：110*110mm 四探针样品测试平台/样品测试平台 型号：DP-SB120/2型
DP-SB120/2型四探针样品测试平台是DP-SB120/1测试平台的改型。其有底座、支架、旋动部件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原DP-SB120/1的基础上作了很大的改，故在校的物理实验及科学研究总为导体/半导体的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便。 线圈平台/亚欧德鹏线圈平台 型号：DP-SB120
线圈平台可用于校的物理教育实验。
其中：DP-SB120线圈平台及DP-SB120/1样品平台可分别对磁电阻薄膜的磁电阻及导体/半导体电阻率行测试及研究。
该实验平台由带360º刻度的底盘，安装在底盘内可旋转360º的衬盘，安装在底盘上的样品平台（低可调）以及安装在样品平台上的四探针等组成DP-SB100/1样品平台。
DP-SB120线圈平台主要增加了二个相同类型的亥姆霍兹磁场线圈，分别安置在样品平台的两侧，且固定在可旋转360º的衬盘两边上，样品平台位于磁场的中心，在其通电0-60V/5A的情况下，可确保产生磁场0-150奥斯。
该实验平台为被测样品在磁场及非磁场情况下，对其的测试研究提供了方便。 四探针金属/半导体电阻率测量仪 型号：DP-SB100A/20A
DP-SB100A/20A是DP-SB100A/20的升版，其为用户提供了使用DP-SB100A/20行四探针测试及实验的配套软件，可运行于PC机上，能兼容运行在Winxp和Win7系统中，用于自动获取实验台的实验数据，并根据条件生成曲线和报表，辅助实验人员自动成实验，直观的分析数据，获得实验结论，保存实验数据。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
该测量仪由DP-SB118/20型电压电流源，DP-PZ158A型直流数字电压表，DP-SB120/2四探针样品测试平台及1台电脑（选购），并附有配套的软件系统等组成。产品的硬件详情可参见DP-SB100A/20及相应产品的介绍 。
该产品的软件系统为用户提供参数设置、实验流程、实验方式、数据分析、曲线报表，并在后台数据库中行长期保存，实验人员可以查询以前的任何次实验的结果、所有的曲线和报表都可提供打印功能。
DP-SB118/20型直流电压电流源 （带RS232C接口，详见该产品使用说明书）
l 直流电压源：输出电压范围 0~50V 分20mV、200mV、2V、20V、50V五档，每档输出电压可连续调节，Z分辨力为1µV，基本误差为0.1%。
l 直流电流源：输出电流范围 0~200mA 分20µA、200µA、2mA、20mA、200mA五档，每档输出电流可连续调节，Z分辨力为1nA，基本误差为0.03%。
l 仪器后面板配有二个RS232C接口,，个为DP-PZ158A/RS232C接口连接至DP-PZ158A，另个为PC/RS232C接口连接至PC机上，可利用PC机上的“终端”获得仪器的测量数据。
DP-PZ158A型数字电压表（详见该产品使用说明书）
可测量0~1000V直流电压 具有200mV、2V、20V、200V、1000V五档量程，Z分辨力为0.1µV，基本误差为0.003%。
DP-SB120/2四探针样品平台（详见该产品使用说明书）
为被测薄膜样品，利用四探针测量方式测量导体/半导体样品的电阻和电阻率，提供了方便。 四探针导体/半导体电阻率测量仪 型号：DP-SB100A/3型
由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-5—106Ω。
DP-SB100A/3型四探针导体/半导体电阻率测量仪是由DP-SB118/1型电压电流源以及DP-SB120/2四探针样品平台二台仪器构成。
l DP-SB118型直流电压电流源 （详见该产品使用说明书）
直流电流源
a) 电流输出范围：1nA~200mA，输出电压不小于5V；
b) 量程：分五档，20μA、200μA、2mA、20mA、200mA；
c) 电流输出的基本误差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）；其中50~200mA为0.05%RD±0.02%FS。
直流电压源
a) 电压输出范围：5μV~50V，负载电流不小于10mA（20mV以上）；
b) 量程：分五档，20mV、200mV、2V、20V、50V，每档均有粗调和细调；
c) 电压输出的基本误差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）。
数字电压表（4½LED）利用电压源部分“取样”端可对被测电压行测试
a) 测量量程 20mV，200mV，2V，20V，200V
b) Z分辨力 可达1µV
c) 基本误差为 0.03%RD±0.02%FS （20±2ºC）
l DP-SB120/2四探针样品平台（详见该产品使用说明书）
为被测薄膜样品，利用四探针测量方式测量导体/半导体样品的电阻和电阻率，提供了方便。 注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的 |
